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更新日期：2025-10-29
產品型號：APC 610
產品描述： 本儀器基于顆粒消光原理，采用獨創(chuàng)的光學空間低通濾波硬件技術，結合衍射修正算法專利，能準確測量微米級氣載顆粒的粒度分布和個數(shù)，覆蓋了當前儀器市場上未能監(jiān)控大顆粒的痛點。
目前已有的光阻法顆粒計數(shù)器已經廣泛應用于無塵室的空氣中顆粒（氣載顆粒）監(jiān)控, 但是由于光路原理和采樣算法等局限設計, 現(xiàn)有的光阻法儀器無法對空氣中的大顆粒進行較為準確的采樣以及測量。
本儀器基于顆粒消光原理，采用獨創(chuàng)的光學空間低通濾波硬件技術，結合衍射修正算法專利，能準確測量微米級氣載顆粒的粒度分布和個數(shù)，覆蓋了當前儀器市場上未能監(jiān)控大顆粒的痛點。
APC 610氣載顆粒計數(shù)器vs傳統(tǒng)光阻法顆粒計數(shù)器
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真理光學APC 610 氣載顆粒計數(shù)器 |
傳統(tǒng)光阻法顆粒測試 |
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能夠測量顆粒的真實幾何粒徑 |
只能測量顆粒的等效消光粒徑 |
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測量準確性不受顆粒的折射率和吸收系數(shù)影響,無論什么材料組成的顆粒，都能得到準確的測量結果 |
受顆粒材料的折射率和吸收系數(shù)影響, 比如較低吸收系數(shù)的顆粒, 測量結果會偏?。环粗?，測量結果會偏大 |
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測量準確性高，粒徑測量的理論誤差不超過1% |
準確性無保證 |
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能提供詳盡的粒度分布數(shù)據(jù) |
只能提供粗略的粒度分段數(shù)據(jù) |
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測量單元與驅動單元分離，并與采樣斗直接相連設計（專利技術），測量單元可放置到狹小空間測量，避免了管道污染對測量準確性的影響 |
只能把采樣斗放置到測量空間，管道內的顆粒沉積與污染直接影響測量結果的準確性 |
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測量單元內測量室和采樣斗可拆卸(專利技術)，便于清潔和更換；而管道的污染對測量無影響 |
測量室清潔困難，管道難以徹底清洗 |
